# MapDemo

**Repository Path**: XUSHIHAOO/map-demo

## Basic Information

- **Project Name**: MapDemo
- **Description**: No description available
- **Primary Language**: Unknown
- **License**: Not specified
- **Default Branch**: master
- **Homepage**: None
- **GVP Project**: No

## Statistics

- **Stars**: 0
- **Forks**: 0
- **Created**: 2025-05-09
- **Last Updated**: 2025-06-30

## Categories & Tags

**Categories**: Uncategorized

**Tags**: None

## README

WPF开发的WaferMap功能实现方案（Markdown描述）
一、功能概述
WaferMap（晶圆图）是半导体制造中用于可视化晶圆上芯片（Die）测试结果的关键工具。通过WPF技术实现WaferMap功能，可支持以下核心特性：

多模式显示：支持圆形/矩形晶圆布局，兼容不同芯片排列方式
状态可视化：用颜色/符号区分未加工、加工中、合格、不良等状态
交互操作：实现鼠标悬停高亮、点击查看详细信息、缩放平移等功能
数据绑定：支持动态加载测试数据，实时更新显示状态