diff --git a/README.md b/README.md
index 4340c9a931d36d33f3af17acf0efc0a5cb8c4e2e..755eb18b46015a158d0eb442e33317f9c32b6352 100644
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@@ -357,11 +357,11 @@ IEEE729-1983 (电气和电子工程师协会标准IEEE) 对缺陷有一个标准
 #### 1.4.6 跟踪流程
 最优化、最简单的生命周期是：（理想情况）
 1. 测试员发现缺陷并记录缺陷报告；
-2. 缺陷报告交给程序员，此时缺陷状态是打开；（open state）
-3. 程序员修改缺陷，此时缺陷状态是解决；（resolved state）
+2. 缺陷报告交给程序员，此时缺陷状态是打开（open state）；
+3. 程序员修改缺陷，此时缺陷状态是解决（resolved state）；
 4. 缺陷报告交还测试员；
 5. 测试员确认已修复；
-6. 测试员关闭缺陷报告，此时缺陷状态是关闭。（closed state）
+6. 测试员关闭缺陷报告，此时缺陷状态是关闭（closed state）。
 
 一个缺陷很可能会被反复打开→关闭。在日常工作过程中，由于开发修订其他缺陷影响、需求变更等因素缺陷可能会被反复打开→关闭。